Vineri, 30 Ianuarie 2009 10:12 |
Codul disciplinei |
DIS404M
|
Numar credite |
6
|
Specializarea
|
Microelectronica, optoelectronica si nanotehnologii
|
Obiective
|
Prezentarea modelelor de defecte logice utilizate in tehnologiile actuale. Prezentarea tehnicilor de simulare a defectelor si de generare a testelor. Prezentarea metodelor de testare a circuitelor. Prezentarea tehnicilor de proiectare pentru testabilitate. |
Descriptori |
Defecte logice, defecte fizice. Detectia si localizarea defectelor. Generarea testelor. Simularea defectelor. Acoperirea defectelor. Redundanta. Testare compacta. Semnatura. Scanare. Arhitecturi Bilt-In Self-Test.
|
Documente
|
Fisa disciplinei | Programa analitica
|
Resurse Internet
|
Pagina cursului | Moodle
|
Titular
|
Conf.dr.ing. Damian Imbrea (curs, laborator)
|
|
Ultima actualizare în Miercuri, 16 Septembrie 2009 12:56 |